型號(hào):TSC-80PF-2P
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更新時(shí)間:2024-09-10
價(jià)格:8901
溫度冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)機(jī)儀器儀表在研發(fā),生產(chǎn),檢驗(yàn)各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供高低溫沖擊,高低溫恒定,高低溫沖擊循環(huán)等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件。LED冷熱沖擊驗(yàn)箱適用于科研實(shí)驗(yàn)室及品質(zhì)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)車間等
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-30萬(wàn) |
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儀器種類 | 其它沖擊試驗(yàn)機(jī) |
溫度冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)機(jī)儀器儀表
簡(jiǎn)介:
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于航天、 艦船、電工、電子、儀器儀表;醫(yī)療器械;民用核能;高等院校;科研實(shí)驗(yàn)所;商檢仲裁、技術(shù)監(jiān)督部門;建材陶瓷;石油化工等產(chǎn)品、整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱升降溫速錄分析:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱它的結(jié)構(gòu)基本分為二箱式和三箱式兩種;它的升降溫速率(沖擊速率)國(guó)標(biāo)是有嚴(yán)格規(guī)定的,一般無論二箱式還是三箱式動(dòng)作時(shí)間必需小于15秒,恢復(fù)時(shí)間小于5分鐘。
快速升降溫(快速溫變?cè)囼?yàn)箱),它一般是一個(gè)箱體構(gòu)成,但特殊的升降溫要求(升降溫速率要求過高時(shí))時(shí),也會(huì)采用兩個(gè)箱體;它的zui大升降溫速率一般大于國(guó)標(biāo)規(guī)定的范圍,常見的有6攝氏度/分鐘至15攝氏度/分鐘的升降溫速率,但其速率可以像普通試驗(yàn)箱一樣,通過儀表控制任意設(shè)定其速率。
品名:二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào):TSC-80PF-2P
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容積:80L
內(nèi)形尺寸(寬W*高H*深D):W400*H350*D350mm
外形尺寸(寬W*高H*深D):W1370*H1810*D1950mm
溫度沖擊范圍:(+60~+150)℃/(-40~-10)℃
控制器:韓國(guó)三元進(jìn)口控制器TEMI8226S
壓縮機(jī):比澤爾壓縮機(jī)
電源:AC380V 三相四線+保護(hù)地線
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:高溫箱: +60℃~200℃;
低溫箱: 0℃~-70℃;
溫度波動(dòng)度:±0.5℃;
溫度均勻:±2℃;
升溫速率:≤5℃/min; (全程平均)
降溫速率:≤5℃/min;; (全程平均)
預(yù)冷下限溫度:≤-70℃
沖擊溫度:+150~-60℃;
工作室尺寸: 400×400×500mm; (深×寬×高)(多款可選,
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復(fù)時(shí)間: 5min;
樣品架轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10s;
沖擊方式:上下移動(dòng)提籃式或翻板式
溫度冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)機(jī)儀器儀表
控制系統(tǒng):
1、溫度控制器采用*彩色觸摸式智能可程序溫度控制器,程式編輯容易,熒幕操作簡(jiǎn)單。
2、溫度顯示0.1℃,解析度±0.1℃。
3、中英文液晶顯示LCD觸摸式面板,畫面對(duì)談式輸入數(shù)據(jù),溫度可程控。
4、具有自動(dòng)演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定。
5、控制器具有熒屏自動(dòng)屏保功能,在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行狀態(tài)下更好的保護(hù)液晶屏使其壽命更長(zhǎng)久。
6、所有電器均采用(施耐德)系列產(chǎn)品溫度控制采用P.I.D+S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制。
7、資料及試驗(yàn)條件輸入后,控制器具有熒屏鎖定功能,避免人為觸摸而停機(jī)。
8、具有RS-232或RS-485遠(yuǎn)程通訊界面,可在電腦上設(shè)計(jì)程式,監(jiān)視試驗(yàn)過程并執(zhí)行自動(dòng)開關(guān)機(jī)。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)以及滿足試驗(yàn)方法:
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4. GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
相關(guān)產(chǎn)品